研究業績 > 学会・研究会報告 > 2000
(1)土井修一,北野泰広,阪上潔,寺内暉,高橋功 :BaTiO3/SrTiO3(001)表面における構造相転移, 2000年3月28日,日本物理学会分科会(関大)
(2)末利良一,高橋功,大井喜久夫:X線回折を用いたSr2Nb2O7の不整合構造とその乱れの観察,2000年3月28日,日本物理学会分科会(関大)
(3)田中律寿・高橋功:磁性流体表面に現れる秩序と乱れのX線回折による観察,2000年3月28日,日本物理学会分科会(関大)
(4)高橋功,田中律寿:X線反射率を用いた磁性コロイド流体の表面構造の観察,2000年7月8日,中部・関西誘電体セミナー(名工大)
(5)土井修一,高橋功:X-ray Reflectivity Study of Structural Phase Transitions on BaTio3 Single Crystals and Epitaxial Thin Films,31 Aug 2000 ECM : Surface Crystallography Satellite Meeting of 19th European Crystallographic Meeting @Nancy France
(6)柴田彩衣,土井修一,高橋功:Design of a Laboratory Use Image Plate Camera for Surface and Interface Structure Analysis,17 Oct 2000,ISSI : The International Symposium on Surface and Interface @Nagoya
(7)田中律寿・土井修一・高橋功:Two-Dimensional Cluster of Magnetic Fine Particles at the Surface of Magnetic Colloidal Suspension,6 Nov 2000,ICCSS : International Conference on Colloid & Surface Sceince @Tokyo
(8)柴田彩衣,土井修一,高橋功,表面・界面用イメージングプレートカメラの製作:
(9)加田敏照,土井修一,高橋功,淡路直樹,杉田義博,古宮聰:X線回折による酸窒化シリコン膜の構造評価,2000年11月21日(仙台)
(10)島津裕充,土井修一,高橋功:山口達也,阪上潔,寺内暉:X線回折による誘電体薄膜の構造相転移と表面変化の評価,2000年11月21日(仙台)
(11)田中律寿,土井修一,高橋功:X線反射率による磁性流体表面の構造的秩序と乱れの評価Ⅱ,2000年11月21日(仙台)